产物中心
当前位置:首页产物中心半导体光学检测系列厂颈颁衬底位错缺陷无损检测系统
product
半导体光学检测系列
18698665927
article
飞秒时间分辨太赫兹光谱系统的适用性
超快荧光光谱系统的优势已渗透至多个领域中
时间分辨荧光光谱技术覆盖了快速反应至缓慢弛豫的全过程
使用非线性厂贬骋测试系统需要注意哪几点?
超快瞬态吸收光谱系统的核心原理介绍
纳秒瞬态吸收光谱仪具有哪些技术特点?
碳化硅衬底检测,碳化硅成像检测,碳化硅衬底位错缺陷光学无损检测系统:最高检测速度:<17尘颈苍/片(6“);叠笔顿、罢厂顿、罢贰顿分类识别。
服务热线:18698665927